Разработан термометр из двумерных материалов для мгновенного измерения температуры внутри процессора

Разработан термометр из двумерных материалов для мгновенного измерения температуры внутри процессора

Исследователи из Университета штата Пенсильвания в США совершили прорыв в области охлаждения микроэлектроники, разработав микроскопический термометр на основе двумерных материалов, предназначенный для прямой интеграции в компьютерные чипы. Уникальность разработки заключается…

Источник